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黄星奕, 张庆磊, 吕强. 软X射线技术对核桃内部品质的无损检测研究[J]. 食品工业科技, 2011, (02): 344-346. DOI: 10.13386/j.issn1002-0306.2011.02.103
引用本文: 黄星奕, 张庆磊, 吕强. 软X射线技术对核桃内部品质的无损检测研究[J]. 食品工业科技, 2011, (02): 344-346. DOI: 10.13386/j.issn1002-0306.2011.02.103

软X射线技术对核桃内部品质的无损检测研究

  • 摘要: 针对传统方法对核桃内部品质检测的破坏性问题,尝试利用软X射线技术进行核桃内部品质的无损检测。首先采用软X射线技术获取核桃图像,对图像进行去噪和分割;而后提取核桃的轮廓特征,采用面积阈值法对核桃的正常果、空壳果、破损果进行判别区分。实验结果表明,各类核桃总体识别正确率达88.9%,为核桃内部品质无损检测提供了可行的方法。 

     

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